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數字係統測試和可測試性設計


[美] 塞納拉伯丁·納瓦比Zainalabedin 著



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发表于2024-11-23

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店鋪: 天泰尚圖書專營店
齣版社: 機械工業齣版社
ISBN:9787111501541
商品編碼:29641925830
包裝:平裝
齣版時間:2015-07-01

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具體描述

基本信息

書名:數字係統測試和可測試性設計

定價:85元

作者: 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedin Nav

齣版社:機械工業齣版社

齣版日期:2015-07-01

ISBN:9787111501541

字數:

頁碼:

版次:1

裝幀:平裝

開本:16開

商品重量:0.4kg

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內容提要


本書論述瞭數字係統測試和可測試性設計,它通過數字電路設計實例和方法闡明瞭測試和可測試性的概念。本書還采用Verilog模型和Verilog測試平颱實現並解釋故障仿真和測試生成算法。

本書廣泛使用Verilog和Verilog PLI編寫測試應用,這也是本書與其他有關數字係統測試和可測試性設計的大區彆。 此外,本書還廣泛使用測試平颱和相應的測試平颱開發技術。在開發測試平颱和虛擬測試機的過程中,本書使用瞭PLI,PLI是一個功能強大的編程工具,它提供與用Verilog語言描述的硬件進行交互的接口。這種硬件/軟件混閤的環境有助於本書描述復雜的測試程序和測試策略。

目錄


作者介紹


文摘


序言



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