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圖書介紹


數字集成電路測試優化


李曉維 著



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发表于2024-11-29

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店鋪: 博學精華圖書專營店
齣版社: 科學齣版社
ISBN:9787030278944
商品編碼:29692315146
包裝:精裝
齣版時間:2010-06-01

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具體描述

基本信息

書名:數字集成電路測試優化

定價:58.00元

售價:39.4元,便宜18.6元,摺扣67

作者:李曉維

齣版社:科學齣版社

齣版日期:2010-06-01

ISBN:9787030278944

字數

頁碼

版次:1

裝幀:精裝

開本:16開

商品重量:0.740kg

編輯推薦


內容提要

本書內容涉及數字集成電路測試優化的三個主要方麵:測試壓縮、測試功耗優化、測試調度。包括測試數據壓縮的基本原理,激勵壓縮的有效方法,測試響應壓縮方法和電路結構;測試功耗優化的基本原理,靜態測試功耗優化方法,動態測試功耗優化;測試壓縮與測試功耗協同優化方法;測試壓縮與測試調度協同優化方法;並以國産64位高性能處理器(龍芯2E和2F)為例介紹瞭相關成果的應用。
全書闡述瞭作者及其科研團隊自主創新的研究成果和結論,對緻力於數字集成電路測試與設計研究的科研人員(尤其是在讀研究生)具有較大的學術參考價值,也可用作集成電路專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。

目錄


作者介紹


文摘


序言



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