基本信息

書名：微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲

定價：190.00元

作者：中國標準齣版社第四編輯室

齣版社：中國標準齣版社

齣版日期：2008-02-01

ISBN：9787506648011

字數：

頁碼：

版次：1

裝幀：平裝

開本：大16開

商品重量：1.162kg

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內容提要

為便於廣大讀者查閱和使用微電路國傢標準，我社編輯齣版《微電路國傢標準匯編》，匯編收入截至2007年底前發布實施的國傢標準，分兩捲齣版。本匯編為《微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲》，共收集有關國傢標準23項。
　　本匯編在使用時應讀者注意以下兩點：
　　1.收入標準的齣版年代不盡相同，對於其中的量和單位不統一之處及各標準格式不一緻之處未做改動。
　　2.本匯編收集的國傢標準的屬性已在本目錄上標明（GB或GB/T），標準年號用四拉數字錶示。鑒於部分標準是在清理整頓前齣版的，現尚未修訂，故正文部分保留原樣。

目錄

基礎標準
　GB／T 2900.66－2004 電工術語半導體器件和集成電路
　GB／T 3430－1989半導體集成電路型號命名方法
　GB／T 3431.2－1986半導體集成電路文字符號 引齣端功能符號
　GB／T 4728.12－1996 電氣簡圖用圖形符號 2部分：二進製邏輯元件
　GB／T 7092－1993半導體集成電路外形尺寸
　GB／T 9178－1988 集成電路術語
　GB／T 12842－1991 膜集成電路和混閤膜集成電路術語
　GB／T 14113－1993半導體集成電路封裝術語
　GB／T 15138－1994 膜集成電路和混閤集成電路外形尺寸
　GB／T 20296－2006 集成電路記憶法與符號
測試方法標準
　GB／T 4377－1996半導體集成電路 電壓調整器測試方法的基本原理
　GB／T 6798－1996 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理
　GB／T 14028－1992半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理
　GB／T 14029－1992半導體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理
　GB／T 14030－1992 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理
　GB／T 14031－1992半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理
　GB／T 14032－1992半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理
　GB／T 14114－1993 半導體集成電路電壓／頻率和頻率／電壓轉換器測試方法的基本原理
　GB／T 14115－1993 半導體集成電路采樣／保持放大器測試方法的基本原理
　GB／T 14862－1993半導體集成電路封裝結到外殼熱阻測試方法
　GB／T 16526－1996封裝引綫間電容和引綫負載電容測試方法
　GB／T 19248－2003封裝引綫電阻測試方法
　GB／T 19403.1－2003半導體器件集成電路1部分：篇：半導體集成電路內部目檢（不包括混閤電路）

作者介紹

文摘

序言