发表于2024-12-20
SMT核心工藝解析與案例分析(第3版)(全彩) pdf epub mobi txt 電子書 下載 2024
賈忠中,中興通訊總工藝師。主要研究領域:SMT技術。主要作品有:《SMT工藝質量控製》電子工業齣版社,2007;《SMT核心工藝解析與案例分析》電子工業齣版社,2010;《SMT核心工藝解析與案例分析》第2版,電子工業齣版社,2013.
第1章 錶麵組裝基礎知識
1.1 SMT概述/3
1.2 錶麵組裝基本工藝流程/5
1.3 PCBA組裝流程設計/6
1.4 錶麵組裝元器件的封裝形式/9
1.5 印製電路闆製造工藝/15
1.6 錶麵組裝工藝控製關鍵點/23
1.7 錶麵潤濕與可焊性/24
1.8 焊點的形成過程與金相組織/25
1.9 黑盤/36
1.10 工藝窗口與工藝能力/37
1.11 焊點質量判彆/38
1.12 片式元器件焊點剪切力範圍/41
1.13 P-BGA封裝體翹麯與吸潮量、溫度的關係/42
1.14 PCB的烘乾/45
1.15 焊點可靠性與失效分析的基本概念/47
1.16 賈凡尼效應、電遷移、爬行腐蝕與硫化的概念/48
1.17 再流焊接次數對BGA與PCB的影響/52
1.18 焊點可靠性試驗與壽命預估(IPC-9701)/54
第2章 工藝輔料
2.1 焊膏/60
2.2 失活性焊膏/68
2.3 無鉛焊料閤金及相圖/70
第3章 核心工藝
3.1 鋼網設計/73
3.2 焊膏印刷/79
3.3 貼片/89
3.4 再流焊接/90
3.5 波峰焊接/103
3.6 選擇性波峰焊接/120
3.7 通孔再流焊接/126
3.8 柔性闆組裝工藝/128
3.9 烙鐵焊接/130
3.10 BGA的角部點膠加固工藝/132
3.11 散熱片的粘貼工藝/133
3.12 潮濕敏感器件的組裝風險/134
3.13 Underfill加固器件的返修/135
3.14 不當的操作行為/136
第4章 特定封裝組裝工藝
4.1 03015封裝的組裝工藝/138
4.2 01005組裝工藝/140
4.3 0201組裝工藝 /145
4.4 0.4mm CSP組裝工藝/148
4.5 BGA組裝工藝/155
4.6 PoP組裝工藝/159
4.7 QFN組裝工藝/166
4.8 LGA組裝工藝/179
4.9 陶瓷柱狀柵陣列元件(CCGA)組裝工藝要點/180
4.10 晶振組裝工藝要點/181
4.11 片式電容組裝工藝要點/182
4.12 鋁電解電容器膨脹變形對性能的影響評估/185
4.13 子闆/模塊銅柱引齣端組裝工藝要點/186
4.14 錶貼同軸連接器焊接的可靠性/187
4.15 LED的波峰焊接/189
第5章 無鉛工藝
5.1 RoHS/190
5.2 無鉛工藝/191
5.3 BGA混裝工藝/192
5.4 混裝工藝條件下BGA的收縮斷裂問題/200
5.5 混裝工藝條件下BGA的應力斷裂問題/205
5.6 PCB錶麵處理工藝引起的質量問題/209
5.6.1 OSP工藝/211
5.6.2 ENIG工藝/213
5.6.3 Im-Ag工藝/217
5.6.4 Im-Sn工藝/221
5.6.5 OSP選擇性處理/224
5.7 無鉛工藝條件下微焊盤組裝的要領/225
5.8 無鉛烙鐵的選用/226
5.9 無鹵組裝工藝麵臨的挑戰/227
第6章 可製造性設計
6.1 焊盤設計/230
6.2 元器件間隔設計/235
6.3 阻焊層的設計/236
6.4 PCBA的熱設計/237
6.5 麵嚮直通率的工藝設計/240
6.6 組裝可靠性的設計/246
6.7 再流焊接底麵元器件的布局設計/248
6.8 厚膜電路的可靠性設計/249
6.9 散熱器的安裝方式引發元器件或焊點損壞/251
6.10 插裝元器件的工藝設計/253
第7章 由工藝因素引起的問題
7.1 密腳器件的橋連/257
7.2 密腳器件虛焊/259
7.3 空洞/260
7.4 元器件側立、翻轉/275
7.5 BGA虛焊的類彆/276
7.6 BGA球窩現象/277
7.7 鏡麵對貼BGA縮锡斷裂現象/280
7.8 BGA焊點機械應力斷裂/283
7.9 BGA熱重熔斷裂/301
7.10 BGA結構型斷裂/303
7.11 BGA冷焊/305
7.12 BGA焊盤不潤濕/306
7.13 BGA焊盤不潤濕――特定條件:焊盤無焊膏/307
7.14 BGA黑盤斷裂/308
7.15 BGA返修工藝中齣現的橋連/309
7.16 BGA焊點間橋連/311
7.17 BGA焊點與臨近導通孔锡環間橋連/312
7.18 無鉛焊點錶麵微裂紋現象/313
7.19 ENIG盤麵焊锡汙染/314
7.20 ENIG盤/麵焊劑汙染/315
7.21 锡球――特定條件:再流焊工藝/316
7.22 锡球――特定條件:波峰焊工藝/317
7.23 立碑/319
7.24 锡珠/321
7.25 0603波峰焊時兩焊端橋連/322
7.26 插件元器件橋連/323
7.27 插件橋連――特定條件:
安裝形態(引綫、焊盤、間距組成的環境)引起的/324
7.28 插件橋連――特定條件:托盤開窗引起的/325
7.29 波峰焊掉片/326
7.30 波峰焊托盤設計不閤理導緻冷焊問題/327
7.31 PCB變色但焊膏沒有熔化/328
7.32 元器件移位/329
7.33 元器件移位――特定條件:設計/工藝不當/330
7.34 元器件移位――特定條件:較大尺寸熱沉焊盤上有盲孔/331
7.35 元器件移位――特定條件:焊盤比引腳寬/332
7.36 元器件移位――特定條件:元器件下導通孔塞孔不良/333
7.37 元器件移位――特定條件:元器件焊端不對稱/334
7.38 通孔再流焊插針太短導緻氣孔/335
7.39 測試針床設計不當,造成焊盤燒焦並脫落/336
7.40 QFN開焊與少锡(與散熱焊盤有關的問題)/337
7.41 熱沉元器件焊劑殘留物聚集現象/338
7.42 熱沉焊盤導熱孔底麵冒锡/339
7.43 熱沉焊盤虛焊/341
7.44 片式電容因工藝引起的開裂失效/342
7.45 變壓器、共模電感開焊/345
7.46 密腳連接器橋連/346
第8章 由PCB引起的問題
8.1 無鉛HDI闆分層/349
8.2 再流焊接時導通孔“長”齣黑色物質/350
8.3 波峰焊點吹孔/351
8.4 BGA拖尾孔/352
8.5 ENIG闆波峰焊後插件孔盤邊緣不潤濕現象/353
8.6 ENIG錶麵過爐後變色/355
8.7 ENIG麵區域性麻點狀腐蝕現象/356
8.8 OSP闆波峰焊接時金屬化孔透锡不良/357
8.9 OSP闆個彆焊盤不潤濕/358
8.10 OSP闆全部焊盤不潤濕/359
8.11 噴純锡對焊接的影響/360
8.12 阻焊劑起泡/361
8.13 ENIG鍍孔壓接問題/362
8.14 PCB光闆過爐(無焊膏)焊盤變深黃色/363
8.15 微盲孔內殘留物引起BGA焊點空洞大尺寸化/364
8.16 超儲存期闆焊接分層/365
8.17 PCB局部凹陷引起焊膏橋連/366
8.18 BGA下導通孔阻焊偏位/367
8.19 導通孔藏锡珠現象及危害/368
8.20 單麵塞孔質量問題/369
8.21 CAF引起的PCBA失效/370
8.22 PCB基材波峰焊接後起白斑現象/372
第9章 由元器件電極結構、封裝引起的問題
9.1 銀電極浸析/375
9.2 單側引腳連接器開焊/376
9.3 寬平引腳開焊/377
9.4 片式排阻開焊/378
9.5 QFN虛焊/379
9.6 元器件熱變形引起的開焊/380
9.7 SLUG-BGA的虛焊/381
9.8 BGA焊盤下PCB次錶層樹脂開裂/382
9.9 陶瓷闆塑封模塊焊接時內焊點橋連/384
9.10 全矩陣BGA的返修――角部焊點橋連或心部焊點橋連 /385
9.11 銅柱引綫的焊接――焊點斷裂/386
9.12 堆疊封裝焊接造成內部橋連/387
9.13 片式排阻虛焊/388
9.14 手機EMI器件的虛焊/389
9.15 FCBGA翹麯/390
9.16 復閤器件內部開裂――晶振內部/391
9.17 連接器壓接後偏斜/392
9.18 引腳伸齣太長,導緻通孔再流焊“球頭現象”/393
9.19 鉭電容旁元器件被吹走/394
9.20 灌封器件吹氣/395
9.21 手機側鍵內進鬆香/396
9.22 MLP(Molded Laser PoP)的虛焊與橋連/398
9.23 錶貼連接器焊接變形/401
9.24 片容應力失效/403
第10章 由設備引起的問題
10.1 再流焊後PCB錶麵齣現異物/405
10.2 PCB靜電引起Dek印刷機頻繁死機/406
10.3 再流焊接爐鏈條顫動引起元器件移位/407
10.4 再流焊接爐導軌故障使單闆燒焦/408
10.5 貼片機PCB夾持工作颱上下衝擊引起重元器件移位/409
10.6 鋼網變形導緻BGA橋連/410
10.7 擦網紙與擦網工藝引起的問題/411
第11章 由設計因素引起的工藝問題
11.1 HDI闆焊盤上的微盲孔引起的少锡/開焊/413
11.2 焊盤上開金屬化孔引起的虛焊、冒锡球/414
11.3 焊盤與元器件引腳尺寸不匹配引起開焊/416
11.4 焊盤大小不同導緻錶貼電解電容器再流焊接移位/417
11.5 測試盤接通率低/417
11.6 BGA附近設計有緊固件,無工裝裝配時容易引起BGA焊點斷裂/418
11.7 散熱器彈性螺釘布局不閤理引起周邊BGA的焊點拉斷/419
11.8 局部波峰焊工藝下元器件布局不閤理導緻被撞掉/420
11.9 模塊黏閤工藝引起片容開裂/421
11.10 不同焊接溫度需求的元器件布局在同一麵/422
11.11 設計不當引起片容失效/423
11.12 設計不當導緻模塊電源焊點斷裂/424
11.13 拼闆V槽殘留厚度小導緻PCB嚴重變形/426
11.14 0.4mm間距CSP焊盤區域凹陷/428
11.15 薄闆拼闆連接橋寬度不足引起變形/430
11.16 灌封PCBA插件焊點斷裂/431
第12章 由手工焊接、三防工藝引起的問題
12.1 焊劑殘留物引起的絕緣電阻下降/432
12.2 焊點錶麵殘留焊劑白化/435
12.3 強活性焊劑引起焊點間短路/436
12.4 焊點附近三防漆變白/437
12.5 導通孔焊盤及元器件焊端發黑/438
第13章 操作不當引起的焊點斷裂與元器件問題
13.1 不當的拆連接器操作使SOP引腳拉斷/439
13.2 機械衝擊引起BGA脆斷/440
13.3 多次彎麯造成BGA焊盤拉斷/441
13.4 無工裝安裝螺釘導緻BGA焊點拉斷/442
13.5 元器件被周轉車導槽撞掉/443
13.6 無工裝操作使元器件撞掉/444
第14章 腐蝕失效
14.1 常見的腐蝕現象/445
14.2 厚膜電阻/排阻硫化失效/447
14.3 電容硫化現象/449
14.4 爬行腐蝕現象/451
14.5 銀有關的典型失效/453
附錄A 術語?縮寫?簡稱
參 考 文 獻
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